公差配合与技术测量

作者：蒋浩，刘军，谭补辉主编

页数：257页

出版社：国家开放大学出版社

出版日期：2017

ISBN：9787304080921

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内容简介

本书共分为十章, 主要内容包括: 光滑圆柱体结合的公差与配合, 技术测量基础, 几何公差与检测, 表面粗糙度及测量, 滚动轴层的公差与配合、圆锥的公差与配合、键和花键的公差与配合、螺纹的公差与配合、圆柱齿轮公差与检测等。