作者：黄松岭//赵伟
页数：170
出版社：清华大学出版社
出版日期：2016
ISBN：9787302436591
电子书格式：pdf/epub/txt
内容简介
黄松岭教授长期专著于漏磁检测缺陷反演成像理论与技术，通过大量卓有成效的工作，取得了显著的理论成果并获得了工程应用。本书系统论述了漏磁成像的基本理论，包括漏磁检测影响因素、检测信号处理方法、缺陷当量尺寸量化方法、缺陷轮廓反演、三维漏磁成像等内容。本书是作者对漏磁检测缺陷反演与成像理论的系统梳理，并汇集了作者10多年来的科研与技术应用成果，对于高校师生和从事无损检测技术的工程人员极具参考价值。
作者简介
黄松岭（1970—），清华大学油田电气工程研究中心主任、教授、博士生导师，IETFellow，中国仪器仪表学会设备结构健康监测与预警分会常务理事。主要研究方向为结构健康监测与缺陷无损评估。负责国家重大科学仪器设备开发专项“铁磁性材料三维漏磁成像检测仪开发”项目，承担完成了十多项国家863、国家科技支撑计划项目、国家自然科学基金项目和企业重大产业化项目。发表论文200多篇，其中40多篇被SCI检索，60多篇被EI检索，获得省部级和行业协会科技奖励11项。出版教材、专著和大型工具书6本。
赵伟（1956—），清华大学电机系教授、博士生导师，主要从事现代电磁测量技术及仪器方向的教学和科研工作，发表论文200多篇。作为第1、第2作者或主编，出版有教材《电磁测量》，译著《电工理论基础》（第4版），专著《电子式电能表及其在现代用电管理中的应用》，辞书《新编电气工程师实用手册》、《中国电工大典》和《现代电气工程师实用手册》等。
本书特色
漏磁检测缺陷反演成像理论与技术是近年兴起的研究热点，国内外学者通过大量卓有成效的研究工作，取得了显著的理论成果并进行了工程应用。本书系统介绍了漏磁检测基本原理、缺陷识别与量化理论及其实现技术，主要包括漏磁检测影响因素、检测信号处理方法、缺陷当量尺寸量化方法、缺陷轮廓反演、三维漏磁成像等内容。
本书是作者对漏磁检测缺陷反演与成像理论的系统梳理，作者汇集了十多年来的科研与技术应用成果，对于高校师生和从事无损检测技术的工程人员极具参考价值。
目录
目录第1章绪论1．1引言1．2漏磁检测影响因素1．2．1磁化的影响1．2．2检测过程的影响1．3漏磁检测缺陷量化反演技术研究现状1．3．1mfl检测理论与技术发展1．3．2缺陷量化反演技术研究1．3．3mfl检测缺陷量化反演仍需解决的问题第2章检测信号处理方法2．1数据采集与存储2．1．1漏磁检测的数据采集2．1．2数据的组织与存储2．2数据压缩及降噪方法2．2．1检测数据压缩2．2．2检测信号降噪方法第3章漏磁检测缺陷量化方法3．1引言3．2基于统计识别的缺陷量化方法3．2．1漏磁信号的预处理3．2．2波形特征的定义和提取3．2．3缺陷长度的统计识别3．2．4多变量统计分析方法3．2．5缺陷宽度的统计识别3．2．6缺陷深度的统计识别3．3径向基函数神经网络量化方法3．4三维有限元神经网络量化方法3．4．1有限元法的离散化原理3．4．2有限元神经网络3．4．3用fenn求解正问题和逆问题3．4．4fenn的优点分析第4章三维漏磁检测缺陷轮廓反演4．1三维漏磁信号特性4．1．1信号的基本特征4．1．2信号随缺陷尺寸的变化规律4．2缺陷三维轮廓的随机搜索迭代反演方法4．2．1待求解区域的分段识别4．2．2缺陷开口轮廓检测方法4．2．3缺陷三维轮廓网状模型4．2．4缺陷三维轮廓的随机搜索迭代反演4．3缺陷三维轮廓的神经网络迭代反演方法4．3．1三维mfl检测信号的主要特征值提取4．3．2缺陷三维轮廓条状模型4．3．3基于rbf神经网络的mfl信号正向预测4．3．4缺陷三维轮廓的rbf神经网络迭代反演4．4缺陷三维轮廓的多阶段逐次逼近反演方法4．4．1缺陷轮廓的多阶段复合反演4．4．2缺陷网状模型的逐步细化4．4．3有限元计算剖分尺寸的逐步细化4．4．4实际缺陷三维轮廓反演实验4．5采样精度对缺陷三维轮廓反演的影响与修正4．5．1采样精度的影响分析4．5．2三维mfl信号的插值修正方法4．5．3实验验证第5章三维漏磁成像检测5．1三维漏磁信号特征量值5.1.1凹坑缺陷的参数定义5.1.2水平沟槽缺陷的参数定义5.1.3切向沟槽缺陷的参数定义5．2完整信号下的缺陷分类量化方法5．2．1基于rbf神经网络的缺陷分类方法5．2．2基于bp神经网络的缺陷量化方法5．3不完整信号下的缺陷量化与显示方法5．3．1缺陷边缘识别5．3．2缺陷深度估计5．3．3不完整信号下的缺陷实时显示参考文献
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Article Title:《漏磁成像理论与方法》
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