美国采风-吴国盛科学博物馆图志-第2季

作者：吴国盛

页数：232

出版社：中国科学技术出版社

出版日期：2017

ISBN：9787504672742

电子书格式：pdf/epub/txt

内容简介

美国既是当今世界的科技大国，也是科技馆大国。要了解国际科学博物馆的发展状况，必须了解美国。作者受国家留学基金资助，在麻省理工学院科学技术与社会中心以及校博物馆进行了为期一年的学术访问。期间对美国东部地区的波士顿科学博物馆、麻省理工学院博物馆、哈佛科学仪器历史收藏馆、哈佛自然博物馆、纽约美国自然博物馆、费城富兰克林学会科学博物馆、华盛顿史密森国家航空航天博物馆和华盛顿史密森国家自然博物馆进行了独特视角的考察，本书正是这些考察的富有意义的成果。

作者简介

吴国盛，1964年9月生于湖北广济，1983年毕业于北京大学地球物理系空间物理专业获理学学士学位，1986年毕业于北京大学哲学系自然辩证法专业获哲学硕士，1998年毕业于中国社会科学院哲学系外国哲学专业获哲学博士学位。1997年破格评为中国社会科学院哲学研究所研究员，1999-2016年任北京大学哲学系教授，201611月转任清华大学人文学院教授。兼任国务院学位委员会科学技术史学科评议组成员，曾任中国科学技术史学会第七、第八届副理事长。

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