嵌入式RAM的优化设计及前后端关键技术研究

作者：周清军著

页数：159

出版社：西北工业大学出版社

出版日期：2016

ISBN：9787561249468

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内容简介

本书以实际项目为基础, 结合作者对数字集成电路的理解, 主要针对嵌入式RAM的前端优化设计及后端关键技术进行分析讲解。本书共九章, 主要内容是嵌入式RAM的高成品率优化设计、低功耗优化设计及芯片工艺封装技术。文中优化方法应用于项目开发中, 已成功流片, 并通过了测试。