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全新正版半导体光谱分析与拟合计算

封面

作者:陆卫,傅英著

页数:218

出版社:科学出版社

出版日期:2016

ISBN:9787030395665

电子书格式:pdf/epub/txt

内容简介

《半导体科学与技术丛书:半导体光谱分析与拟合计算》在简要介绍半导体光谱测量基本手段后,比较系统地阐述了几种常用的半导体光谱分析方法,同时对光谱的拟合方法作了理论探讨和具体介绍。《半导体科学与技术丛书:半导体光谱分析与拟合计算》还介绍了一些作者自行编写的光谱拟合程序,用这些程序可以方便地在计算机上进行光谱拟合与分析,从而定量地得到材料或器件的物理参数。除了文字及图表论述外,《半导体科学与技术丛书:半导体光谱分析与拟合计算》还特别提供一张包含所有程序以及运行范例的光盘。书本与光盘的有机结合将极大地方便读者对光谱知识的掌控以及在自己工作中的运用。  《半导体科学与技术丛书:半导体光谱分析与拟合计算》适合从事半导体光谱研究的科研工作者阅读,对该领域的研究生也会有所裨益。

目录

第1章 光谱的测量1.1 棱镜分光1.2 光栅分光1.3 傅里叶变换分光1.4 基于傅里叶变换光谱的调制光谱1.5 光谱测量技巧拾零参考文献第2章 半导体物理基础和光学特性2.1 半导体及其纳米结构2.2 包络函数及有效质量近似2.3 晶格振动和声子谱2.4 光电相互作用和半导体光谱2.5 有效介电常数和光谱分析参考文献第3章 透射光谱与反射光谱3.1 基本概念与原理3.2 薄膜样品的透射光谱与反射光谱3.3 晶格振动红外反射光谱l——赝谐振子模型3.4 晶格振动红外反射光谱Il——Kramers-Kronig关系3.5 赝谐振子模型与Kramers-Kroni9关系综合应用3.6 薄膜材料的晶格振动与载流子特性表征参考文献第4章 光荧光光谱4.1 基本概念与原理4.2 带间荧光光谱4.3 低维材料的电子态和光跃迁4.4 量子线材料的荧光光谱4.5 量子点的荧光光谱参考文献第5章 调制光谱5.1 光调制光谱5.2 热调制光谱5.3 压电调制光谱参考文献第6章 量子阱红外探测器的光谱表征6.1 荧光光谱6.2 光调制反射谱6.3 量子阱结构厚度无损检测法6.4 光电导谱6.5 自由电子激光激发下的光电流参考文献第7章 数值方法与计算程序7.1 光谱分析中的全域最小值求解7.2 一维薛定谔方程的传输矩阵求解7.3 由实验远红外反射、透射光强求远红外反射率、透射率:IRRT7.4 赝谐振子模型拟合红外反射光谱:IRREFL7.5 Kramers-Kroni9光谱分析:KK7.6 光谱高斯一洛伦兹线形拟合:GLN7.7 调制反射光谱洛伦兹线形拟合:PRLOREN7.8 调制光谱高斯线形拟合:PRGAUSS7.9 荧光光谱拟合:PL7.10 考虑带尾态的荧光光谱拟合:TAILPL7.11 转移矩阵方法:WORK参考文献附录A 常用物理常量及换算公式A.1 幂次前缀符号A.2 能量表达变换A.3 原子单位、自然单位和量纲附录B 常见半导体性质汉英对照索引

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