互换性与测量技术

作者：徐秀娟

页数：175

出版社：北京理工大学出版社

出版日期：2016

ISBN：9787564017989

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内容简介

本书共分十章，包括绪论、测量技术基础、尺寸公差配合与检测、开关和位置公差与检测、表面粗糙与检测、光滑极限量规设计等。同时附带习题集与本书配套使用。