作者：王承,刘治国编著
页数：205
出版社：国防工业出版社
出版日期：2015
ISBN：9787118099867
电子书格式：pdf/epub/txt
内容简介
本书主要内容包括：基本概念、IEEE1149.X标准、单板级可测性设计、边界扫描测试应用、内建自测试技术、处理器测试技术、嵌入式测试技术。 本书适合于相关领域工程技术人员阅读，也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书。
作者简介
王承，1976生，江苏扬州人，博士。现任职于中兴通讯股份有限公司，主要从事单板级JTAG测试技术的研发、推广和生产应用工作。研究方向：集成电路测试、模式识别、人工智能和故障诊断等。 刘治国，1977生，湖南益阳人，硕士。现任职于工业和信息化部电子第五研究所，主要从事元器件检测和试验工作。研究方向：集成电路可靠性评价和电子元器件检测技术。
本书特色
本书主要内容包括：基本概念、ieee1149.x标准、单板级可测性设计、边界扫描测试应用、内建自测试技术、处理器测试技术、嵌入式测试技术。 本书适合于相关领域工程技术人员阅读，也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书。
目录
第1章 测试的基本概念 1.1 数字电路测试 1.1.1 测试 1.1.2 测试分类 1.1.3 数字电路分类 1.2 故障及故障模型 1.3 算法 1.4 测试覆盖率和故障检出率 1.5 测试矢量 1.5.1 组合电路的测试矢量生成 1.5.2 时序电路的测试矢量生成 1.6 可测性 1.6.1 可控性 1.6.2 可观性 1.6.3 可测性设计方法第2章 单板级.itag测试 2.1 背景介绍 2.2 传统单板测试方法的困难 2.2.1 在线测试 2.2.2 光学测试 2.2.3 功能测试 2.3 生产制造应用 2.4 jtag测试技术 2.5 单板级jtag测试……第3章 ieee1149.x标准第4章 单板级边界扫描可测性设计第5章 边界扫描测试技术应用第6章 串行矢量格式第7章 内建自测试技术第8章 片上仿真测试第9章 嵌入测试参考文献
