作者:蒋顺成,王勇 著
出版社:中国宇航出版社
出版日期:2025
ISBN:9787515921860
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内容简介
本书由中国航天电子技术研究院组织编写,首先从宏观层面阐述了集成电路测试的基础分类和发展现状,进而深入分析了在技术推动、需求牵引双轮驱动下集成电路测试的发展,再从微观层面将航天集成电路测试方法分门别类,结合大量宝贵实例,对其进行了全面阐述。本书旨在系统固化多年来航天集成电路测试的技术经验与成果,推动其规范发展,提升测试人员实操水平与工作效率,完善航天集成电路人才培育体系。