作者：韩彬周建文 著
出版社：电子工业出版社
出版日期：2025
ISBN：9787121496905
电子书格式：pdf/epub/txt
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内容简介
时序约束是确保芯片和FPGA性能满足设计需求的关键技术。芯片研发过程需要准确把握产品需求和项目需求，通过不断迭代、评审和变更，实现需求的收敛和约束。芯片测试用例经过多个阶段的仿真和验证，以保证设计的准确性。在芯片RTL综合流程中，时钟、信号和关键路径的约束是必要的，以满足时序要求。FPGA的时序约束则涉及RTL设计、模块位置、高速IP和I/O延时等，是一项系统的工程。本书深入讲解时序约束的原理和实战，将芯片时序约束的经验应用于FPGA，以最大限度地提升FPGA性能。本书旨在为有经验的工程设计者与工程管理者提供深入的时序约束知识，特别适合高级硬件设计工程师、研发部经理、专业的EMC工程师等。本书不仅适合希望提升芯片和FPGA性能的专业人士，还适合对时序约束原理和应用感兴趣的技术爱好者。
