互换性与技术测量

作者：王成宾，梁群龙主编

页数：392页

出版社：北京理工大学出版社

出版日期：2022

ISBN：9787576309096

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内容简介

本书共分十一章，主要内容包括：孔、轴结合的公差与配合；几何公差及检测；表面粗糙度及检测；平键和花键的公差及检测；滚动轴承的公差与配合；圆锥配合的公差及检测；螺纹公差及检测；渐开线圆柱齿轮公差及检测；几何量测量技术基础；尺寸链等。