作者：郑世才王晓勇
页数：186
出版社：机械工业出版社
出版日期：2019
ISBN：9787111619802
电子书格式：pdf/epub/txt
内容简介
《射线数字检测技术》内容包括概述、辐射探测器与其他器件、数字射线检测基本理论、数字射线检测基本技术、工业常用数字射线检测系统、等价性问题、实验及附录。经过本次修订，本书在内容上构成了一个基本完整的数字射线检测技术知识系统，形成了比较清楚的Ⅱ级人员与Ⅲ级人员要求的区分界定。
本书特色
《射线数字检测技术》内容包括概述、辐射探测器与其他器件、数字射线检测基本理论、数字射线检测基本技术、工业常用数字射线检测系统、等价性问题、实验及附录。经过本次修订，本书在内容上构成了一个基本完整的数字射线检测技术知识系统，形成了比较清楚的Ⅱ级人员与Ⅲ级人员要求的区分界定。
目录
前言
第1章概述
1.1数字射线检测技术的发展概况
1.2数字射线检测技术与胶片射线检测技术的区别
1.3数字射线检测技术基本理论
1.4等价性问题
1.5数字射线检测技术标准
复习题
第2章辐射探测器与其他器件
2.1辐射探测器概述
2.1.1辐射探测器的类型（最）
最2.1.2辐射探测器的一般特性
2.1.3辐射探测器系统
2.2辐射探测器系统的基本性能
2.3分立辐射探测器（DDA）
2.3.1非晶硅辐射探测器（最）
2.3.2非晶硒辐射探测器
2.3.3CCD或CMOS辐射探测器
2.3.4分立辐射探测器的性能（最）
2.4成像板系统（IP板系统）
2.4.1IP板（最）
最2.4.2IP板的主要特性
2.4.3IP板系统的基本性能（最）
最2.5图像增强器系统
最2.5.1图像增强器的基本结构
最2.5.2图像增强器系统的探测过程
最2.5.3图像增强器系统的主要性能
2.6A/D转换器
2.7射线检测的像质计与线对卡
2.7.1像质计概述
2.7.2常规像质计
2.7.3双丝型像质计（最）
最2.74线对卡
复习题
第3章数字射线检测基本理论
3.1数字图像概念
3.1.1数字图像的基本概念
3.1.2数字图像的空间频率
第一3.1.3灰度
最3.1.4数字图像文件格式
3.2图像数字化基本理论
3.2.1图像数字化过程
3.2.2采样定理（最）
最3.2.3量化位数
3.3数字射线检测图像质量
3.3.1检测图像对比度
3.3.2检测图像空间分辨力（最）
3.3.3检测图像信噪比（最）
3.4检测图像与细节识别和分辨
3.4.1检测图像与细节识别的关系（最）
3.4.2检测图像与细节分辨的关系（最）
第一3.5细节可识别性理论关系式
复习题
第4章数字射线检测基本技术
4.1概述
4.2探测器系统选择
4.2.1探测器系统概述
4.2.2探测器系统基本空间分辨力选择
4.2.3规格化信噪比选择
4.3数字射线检测透照技术
4.3.1透照技术控制概述
4.3.2最佳放大倍数（最）
4.3.3源到工件表面的距离（最）
4.3.4曝光曲线（最）
4.4图像数字化参数控制
4.5检测图像显示与缺陷评定技术
4.5.1图像显示与观察条件（最）
4.5.2图像观察识别技术
4.5.3缺陷识别与质量级别评定
4.5.4尺寸测量（最）
第一4.5.5厚度测定
4.6数字射线检测图像质量控制
4.6.1检测图像质量参数控制
4.6.2图像质量的补偿规则（最）
最4.7数字射线检测技术级别近似设计
最4.7.1技术级别设计概述
最4.7.2检测图像常规像质计指标近似设计
最4.7.3检测图像不清晰度（空间分辨力）指标设计
最4.7.4例题
4.8数字射线检测技术稳定性控制
4.8.1检测工艺文件（检测程序文件）
4.8.2检测系统性能的长期稳定性试验控制
4.8.3检测工艺卡编制
复习题
第5章工业常用数字射线检测系统
5.1概述
5.2DR系统
5.2.1DR系统组成
5.2.2DR系统技术控制（最）
5.2.3探测器响应校正与坏像素修正（最）
5.2.4DR系统应用特点
5.3CR系统
5.3.1CR系统检测基本过程
5.3.2CR系统技术控制
5.3.3CR系统应用
最5.4图像增强器数字射线检测系统
第一5.5微焦点数字射线检测系统
第一5.6底片图像数字化扫描技术
第一5.6.1扫描仪概述
第一5.6.2扫描仪的基本性能指标
第一5.6.3扫描技术
第一5.6.4扫描仪选用
复习题
第6章等价性问题
6.1等价性问题概述
6.2等价技术级别评定
6.2.1等价技术级别评定概述
最6.2.2胶片射线照相检测技术的检测图像质量指标分析
最6.2.3等价技术级别评定过程
最6.2.4等价技术级别评定例题
第一6.3等价性问题的理论处理方法
复习题
第7章实验
实验1DDA基本空间分辨力测定
实验2DDA规格化信噪比与曝光量平方根关系曲线测定
实验3DDA像素尺寸对缺陷检测的影响
实验4IP板图像读出扫描点尺寸对缺陷检测的影响
实验5曝光量对检测图像质量的影响
实验6最佳放大倍数试验
实验7曝光曲线制作
实验8图像软件使用
实验9DDA数字射线检测系统使用
实验10CR数字射线检测系统使用
附录
附录A辐射探测器的基础性知识
附录B采样定理说明
附录C数字图像增强处理技术简介
附录D动态数字射线检测技术
附录E射线检测技术系统的调制传递函数
附录F复习参考题答案
参考文献
第1章概述
1.1数字射线检测技术的发展概况
1.2数字射线检测技术与胶片射线检测技术的区别
1.3数字射线检测技术基本理论
1.4等价性问题
1.5数字射线检测技术标准
复习题
第2章辐射探测器与其他器件
2.1辐射探测器概述
2.1.1辐射探测器的类型（最）
最2.1.2辐射探测器的一般特性
2.1.3辐射探测器系统
2.2辐射探测器系统的基本性能
2.3分立辐射探测器（DDA）
2.3.1非晶硅辐射探测器（最）
2.3.2非晶硒辐射探测器
2.3.3CCD或CMOS辐射探测器
2.3.4分立辐射探测器的性能（最）
2.4成像板系统（IP板系统）
2.4.1IP板（最）
最2.4.2IP板的主要特性
2.4.3IP板系统的基本性能（最）
最2.5图像增强器系统
最2.5.1图像增强器的基本结构
最2.5.2图像增强器系统的探测过程
最2.5.3图像增强器系统的主要性能
2.6A/D转换器
2.7射线检测的像质计与线对卡
2.7.1像质计概述
2.7.2常规像质计
2.7.3双丝型像质计（最）
最2.74线对卡
复习题
第3章数字射线检测基本理论
3.1数字图像概念
3.1.1数字图像的基本概念
3.1.2数字图像的空间频率
第一3.1.3灰度
最3.1.4数字图像文件格式
3.2图像数字化基本理论
3.2.1图像数字化过程
3.2.2采样定理（最）
最3.2.3量化位数
3.3数字射线检测图像质量
3.3.1检测图像对比度
3.3.2检测图像空间分辨力（最）
3.3.3检测图像信噪比（最）
3.4检测图像与细节识别和分辨
3.4.1检测图像与细节识别的关系（最）
3.4.2检测图像与细节分辨的关系（最）
第一3.5细节可识别性理论关系式
复习题
第4章数字射线检测基本技术
4.1概述
4.2探测器系统选择
4.2.1探测器系统概述
4.2.2探测器系统基本空间分辨力选择
4.2.3规格化信噪比选择
4.3数字射线检测透照技术
4.3.1透照技术控制概述
4.3.2最佳放大倍数（最）
4.3.3源到工件表面的距离（最）
4.3.4曝光曲线（最）
4.4图像数字化参数控制
4.5检测图像显示与缺陷评定技术
4.5.1图像显示与观察条件（最）
4.5.2图像观察识别技术
4.5.3缺陷识别与质量级别评定
4.5.4尺寸测量（最）
第一4.5.5厚度测定
4.6数字射线检测图像质量控制
4.6.1检测图像质量参数控制
4.6.2图像质量的补偿规则（最）
最4.7数字射线检测技术级别近似设计
最4.7.1技术级别设计概述
最4.7.2检测图像常规像质计指标近似设计
最4.7.3检测图像不清晰度（空间分辨力）指标设计
最4.7.4例题
4.8数字射线检测技术稳定性控制
4.8.1检测工艺文件（检测程序文件）
4.8.2检测系统性能的长期稳定性试验控制
4.8.3检测工艺卡编制
复习题
第5章工业常用数字射线检测系统
5.1概述
5.2DR系统
5.2.1DR系统组成
5.2.2DR系统技术控制（最）
5.2.3探测器响应校正与坏像素修正（最）
5.2.4DR系统应用特点
5.3CR系统
5.3.1CR系统检测基本过程
5.3.2CR系统技术控制
5.3.3CR系统应用
最5.4图像增强器数字射线检测系统
第一5.5微焦点数字射线检测系统
第一5.6底片图像数字化扫描技术
第一5.6.1扫描仪概述
第一5.6.2扫描仪的基本性能指标
第一5.6.3扫描技术
第一5.6.4扫描仪选用
复习题
第6章等价性问题
6.1等价性问题概述
6.2等价技术级别评定
6.2.1等价技术级别评定概述
最6.2.2胶片射线照相检测技术的检测图像质量指标分析
最6.2.3等价技术级别评定过程
最6.2.4等价技术级别评定例题
第一6.3等价性问题的理论处理方法
复习题
第7章实验
实验1DDA基本空间分辨力测定
实验2DDA规格化信噪比与曝光量平方根关系曲线测定
实验3DDA像素尺寸对缺陷检测的影响
实验4IP板图像读出扫描点尺寸对缺陷检测的影响
实验5曝光量对检测图像质量的影响
实验6最佳放大倍数试验
实验7曝光曲线制作
实验8图像软件使用
实验9DDA数字射线检测系统使用
实验10CR数字射线检测系统使用
附录
附录A辐射探测器的基础性知识
附录B采样定理说明
附录C数字图像增强处理技术简介
附录D动态数字射线检测技术
附录E射线检测技术系统的调制传递函数
附录F复习参考题答案
参考文献
