作者：吴华伟,叶从进,张远进著
页数：160
出版社：中国水利水电出版社
出版日期：2019
ISBN：9787517071662
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内容简介
本书针对绝缘栅双极晶体管（简称IGBT）寿命分布与可靠性分析问题，提出了一种基于双应力加速寿命试验和K-S检验的IGBT模块寿命分布研究方法。该方法首先对IGBT模块寿命做对数正态分布假设，然后利用Kolmogorov-Smirnov检验法对一组双应力恒定应力IGBT加速寿命试验数据进行Weibull、对数正态等分布检验，进而利用加速寿命测试数据分析软件（ALTA）对IGBT加速寿命数据进行仿真分析，结果表明，ALTA加速寿命仿真下的IGBT模块寿命仍服从对数正态分布，进一步验证了所提假设的正确性。该方法对IGBT的寿命分布及可靠性分析具有一定的指导意义。
目录
章绪论
1.1研究背景及意义
1.2国内外研究现状
1.3本书主要研究内容及结构安排
1.3.1主要研究内容
1.3.2本书结构安排
第2章IGBT的基本工作原理与失效模式
2.1IGBT基本结构与分类
2.1.1IGBT的基本结构
2.1.2IGBT的分类
2.2IGBT的工作原理及特性
2.2.1IGBT的工作原理
2.2.2IGBT模块的运行特性
2.3IGBT模块的失效模式
2.3.1与封装相关的失效
2.3.2与芯片相关的失效
2.4IGBT状态监测参数对比
2.4.1结壳稳态热阻
2.4.2门极信号
2.4.3关断时间
2.4.4集射极饱和压降
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